차세대 메모리·고해상 디스플레이 핵심 기반 전망
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박진성 한양대학교(한양대) 신소재공학부 교수 연구팀은 산화물 반도체(In₂O₃)를 대상으로 원자층 증착(Atomic Layer Deposition, ALD)과 원자층 식각(Atomic Layer Etching, ALE)을 결합해 두께 수 나노미터 수준에서도 결정성을 유지하면서 전기적 특성을 향상시킬 수 있는 신규 원자층 공정(Atomic Layer Processing, ALP)을 개발했다고 27일 밝혔다.
연구팀은 수소 플라즈마를 이용한 표면 환원 단계와 유기 리간드(아세틸아세톤, Hacac)를 이용한 제거 단계를 순차적으로 결합해 결정성 보존형 In₂O₃ 원자층 식각 공정을 구현했다. 이를 ALD로 성장시킨 산화물 채널에 적용해 정밀 에칭(표면을 깎는 기술)을 수행한 결과 두께 3 nm 초박막에서도 우선 배향이 유지됐으며 표면 거칠기는 0.27 nm에서 0.17 nm로 감소하는 등 결정성과 표면 품질을 동시에 확보하는 데 성공했다.
특히 연구팀은 기존 ALD 공정이 가진 '임계 두께(critical thickness) 이하에서 결정성 확보가 어려운 한계'를 ALD-ALE 연속 공정으로 극복했다. 초박막 환경에서도 결함 밀도를 억제하고 우수한 전기적 신뢰성을 구현할 수 있는 새로운 공정 패러다임을 제시했다는 점에서 높은 평가를 받는다.
박 교수는 "이번 연구는 산화물 반도체 채널에 ALD와 ALE를 연속 적용하는 원자층 공정(Atomic Layer Processing)의 가능성을 실험적으로 입증했다는 점에서 의미가 크다"며 "향후 3D DRAM·3D NAND 등 차세대 메모리, BEOL(백엔드 호환) 로직 소자, 고해상도 디스플레이용 산화물 소자 등에서 3 nm 이하 초박막 채널을 안정적으로 구현하는 핵심 기반 기술이 될 것"이라고 말했다.
이어 "플라즈마 식각이나 반응성 이온 식각(RIE)에 비해 ALE는 자기제한적(layer-by-layer) 반응을 통해 손상을 최소화하면서 두께·조성을 정밀 제어할 수 있는 장점이 있다"며 "이번에 확보한 결정성 보존 ALE 공정은 IGZO, IGO 등 다양한 산화물 반도체 및 고유전 절연막으로 확장 가능해, 미래 반도체 신소자 설계의 플랫폼 공정으로 발전할 것"이라고 전망했다.
연구 결과는 나노소자·나노공정 분야의 국제 저명 학술지 'ACS Nano' 11월호에 온라인 게재됐다. 해당 논문 'Crystallinity-Preserving Atomic Layer Etching of Ultrathin In₂O₃ for Stable Oxide Nanoelectronics'에는 김민찬 한양대 신소재공학부 석박통합과정이 제1저자로 박 교수가 교신저자로 참여했다.














